武汉颐光取得椭偏仪全局参数校准方法及校准系统专利

  11月1日消息,国家知识产权局信息显示,武汉颐光科技有限公司取得一项名为“一种椭偏仪全局参数校准方法及校准系统”的专利,授权公告号CN 115728245 B,申请日期为2022年10月。

本文地址://www.styjt.com/kuaixun/2024-11-01/701083.html

友情提示:文章内容为作者个人观点,不代表本站立场且不构成任何建议,本站拥有对此声明的最终解释权。如果读者发现稿件侵权、失实、错误等问题,可联系我们处理

半岛平台官网入口网站下载
7*24小时半岛电子下载入口
健康图文排名

文章排行榜

  • 周排名
  • 月排名
Baidu
map